Introdução à técnica de espectroscopia fotoeletrônica por raios X (XPS).

Por: Fabiana Magalhães Teixeira, Mendes
Tipo de material: TextoTextoDados da publicação: Rio de Janeiro: Synergia, 2011Descrição: 94; [8]p. ; 21cm ISBN: 978-85-61325-61-9Assunto(s): ESPECTROSCOPIA FOTOELETRÔNICA DE RAIO XClassificação Decimal de Dewey: 543.62
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